A Review of Strain Analysis Using Electron Backscatter Diffraction

Since the automation of the electron backscatter diffraction (EBSD) technique, EBSD systems have become commonplace in microscopy facilities within materials science and geology research laboratories around the world. The acceptance of the technique is primarily due to the capability of EBSD to aid...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis Jg. 17; H. 3; S. 316 - 329
Hauptverfasser:	Wright, Stuart I., Nowell, Matthew M., Field, David P.
Format:	Journal Article
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	New York, USA Cambridge University Press 01.06.2011 Oxford University Press
Schlagworte:	Crystal lattices Materials science Metallurgy electron backscatter diffraction (EBSD) elastic strain orientation imaging microscopy (OIM) residual strain
ISSN:	1431-9276, 1435-8115, 1435-8115
Online-Zugang:	Volltext
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