A Review of Strain Analysis Using Electron Backscatter Diffraction

Since the automation of the electron backscatter diffraction (EBSD) technique, EBSD systems have become commonplace in microscopy facilities within materials science and geology research laboratories around the world. The acceptance of the technique is primarily due to the capability of EBSD to aid...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Microscopy and microanalysis Ročník 17; číslo 3; s. 316 - 329
Hlavní autoři:	Wright, Stuart I., Nowell, Matthew M., Field, David P.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York, USA Cambridge University Press 01.06.2011 Oxford University Press
Témata:	Crystal lattices Materials science Metallurgy electron backscatter diffraction (EBSD) elastic strain orientation imaging microscopy (OIM) residual strain
ISSN:	1431-9276, 1435-8115, 1435-8115
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!