Importance Sampling Microfacet-Based BSDFs using the Distribution of Visible Normals

We present a new approach to microfacet‐based BSDF importance sampling. Previously proposed sampling schemes for popular analytic BSDFs typically begin by choosing a microfacet normal at random in a way that is independent of direction of incident light. To sample the full BSDF using these normals r...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	Computer graphics forum Ročník 33; číslo 4; s. 103 - 112
Hlavní autoři:	Heitz, E., d'Eon, E.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Oxford Blackwell Publishing Ltd 01.07.2014 Wiley
Témata:	Analysis Categories and Subject Descriptors (according to ACM CCS) Computer graphics Computer Science Conductors Dielectric properties Dielectrics Graphics Grazing I.3.7 [Computer Graphics]: Three-Dimensional Graphics and Realism Importance Sampling Mathematical analysis Mathematical models Microfacet BSDF Microstructure Sampling Studies Weight reduction
ISSN:	0167-7055, 1467-8659
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!