Accurate measurement of thin film mechanical properties using nanoindentation
For decades, nanoindentation has been used for measuring mechanical properties of films with the widely used assumption that if the indentation depth does not exceed 10% of the film thickness, the substrate influence is negligible. The 10% rule was originally deduced for much thicker metallic films...
Gespeichert in:
| Veröffentlicht in: | Journal of materials research Jg. 37; H. 7; S. 1373 - 1389 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Journal Article |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
Cham
Springer International Publishing
14.04.2022
Springer Nature B.V |
| Schlagworte: | |
| ISSN: | 0884-2914, 2044-5326 |
| Online-Zugang: | Volltext |
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