Accurate measurement of thin film mechanical properties using nanoindentation

For decades, nanoindentation has been used for measuring mechanical properties of films with the widely used assumption that if the indentation depth does not exceed 10% of the film thickness, the substrate influence is negligible. The 10% rule was originally deduced for much thicker metallic films...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of materials research Jg. 37; H. 7; S. 1373 - 1389
Hauptverfasser: Zak, S., Trost, C. O. W., Kreiml, P., Cordill, M. J.
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: Cham Springer International Publishing 14.04.2022
Springer Nature B.V
Schlagworte:
ISSN:0884-2914, 2044-5326
Online-Zugang:Volltext
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