Iterative Pseudo-Soft-Reliability-Based Majority-Logic Decoding for NAND Flash Memory

This paper proposes a decoding algorithm for nonbinary low-density parity-check (NB-LDPC) codes, aiming to improve the error rate performance for NAND flash memory. Several NB-LDPC decoding methods for NAND flash memory have been studied. Some approaches rely on hard decisions, and these are relativ...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	IEEE access Ročník 9; s. 74531 - 74538
Hlavní autoři:	Park, Kyeong Bin, Chung, Ki-Seok
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Piscataway IEEE 2021 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:	Algorithms Codes Complexity theory Decisions Decoding Error analysis Error correcting codes Error correction codes Flash memory (computers) Hamming distance hard decision Iterative decoding iterative hard-reliability-based majority-logic decoding algorithm NAND flash memory nonbinary low-density parity-check codes Performance degradation Prediction algorithms Reliability
ISSN:	2169-3536, 2169-3536
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!