True-Damage-Aware Enumerative Coding for Improving nand Flash Memory Endurance

This brief presents a technique that can fully exploit the data dependency of flash memory cell damage to improve the program/erase (P/E) cycling endurance of nand flash memory. The key is to opportunistically leverage data lossless compressibility and utilize the compression gain to realize memory-...

Celý popis

Podrobná bibliografia

Vydané v:	IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems Ročník 23; číslo 6; s. 1165 - 1169
Hlavní autori:	Li, Jiangpeng, Zhao, Kai, Ma, Jun, Zhang, Tong
Médium:	Journal Article
Jazyk:	English
Vydavateľské údaje:	IEEE 01.06.2015
Predmet:	Ash Bit error rate Data compression Encoding Endurance enumerative coding Memory management Microprocessors NAND flash memory Endurance enumerative coding nand flash memory
ISSN:	1063-8210, 1557-9999
On-line prístup:	Získať plný text
Tagy:	Pridať tag Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!