Scalable Topological Data Analysis and Visualization for Evaluating Data-Driven Models in Scientific Applications

With the rapid adoption of machine learning techniques for large-scale applications in science and engineering comes the convergence of two grand challenges in visualization. First, the utilization of black box models (e.g., deep neural networks) calls for advanced techniques in exploring and interp...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE transactions on visualization and computer graphics Ročník 26; číslo 1; s. 291 - 300
Hlavní autoři: Liu, Shusen, Gaffney, Jim, Peterson, Luc, Robinson, Peter B., Bhatia, Harsh, Pascucci, Valerio, Spears, Brian K., Bremer, Peer-Timo, Wang, Di, Maljovec, Dan, Anirudh, Rushil, Thiagarajan, Jayaraman J., Jacobs, Sam Ade, Van Essen, Brian C., Hysom, David, Yeom, Jae-Seung
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: United States IEEE 01.01.2020
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:1077-2626, 1941-0506, 1941-0506
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.