An active failure-pursuing Kriging modeling method for time-dependent reliability analysis

•An active failure-pursuing Kriging modeling method is proposed for time-dependent reliability analysis.•An equivalent stochastic process transformation is developed to form a uniform high probability density region.•An active failure-pursing strategy is proposed to identify the most valuable sample...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Mechanical systems and signal processing Ročník 129; s. 112 - 129
Hlavní autori: Jiang, Chen, Wang, Dapeng, Qiu, Haobo, Gao, Liang, Chen, Liming, Yang, Zan
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Berlin Elsevier Ltd 15.08.2019
Elsevier BV
Predmet:
ISSN:0888-3270, 1096-1216
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.