Failure probability estimation through high-dimensional elliptical distribution modeling with multiple importance sampling

This paper addresses the challenge of performing importance sampling in high-dimensional space (several hundred inputs) in order to estimate the failure probability of a physical system subject to randomness. It is assumed that the failure domain defined in the input space can possibly include multi...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Reliability engineering & system safety Ročník 235; s. 109238
Hlavní autori: Chiron, Marie, Genest, Christian, Morio, Jérôme, Dubreuil, Sylvain
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Elsevier Ltd 01.07.2023
Elsevier
Predmet:
ISSN:0951-8320, 1879-0836
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.