Failure probability estimation through high-dimensional elliptical distribution modeling with multiple importance sampling

This paper addresses the challenge of performing importance sampling in high-dimensional space (several hundred inputs) in order to estimate the failure probability of a physical system subject to randomness. It is assumed that the failure domain defined in the input space can possibly include multi...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Reliability engineering & system safety Ročník 235; s. 109238
Hlavní autoři: Chiron, Marie, Genest, Christian, Morio, Jérôme, Dubreuil, Sylvain
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Elsevier Ltd 01.07.2023
Elsevier
Témata:
ISSN:0951-8320, 1879-0836
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.