On the grain size-thickness correlation for thin films

[Display omitted] A meta-analysis of published data in combination with measurements on Al, Cu, CuO, CoCrCuFeNi, Ni90Cr10, TiN, and V sputter deposited thin films, demonstrates that the grain size is correlated to the film thickness by a power law. The growth exponent depends on the homologous tempe...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Acta materialia Ročník 212; s. 116896
Hlavní autoři:	Dulmaa, Altangerel, Cougnon, Florian G., Dedoncker, Robin, Depla, Diederik
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Elsevier Ltd 15.06.2021
Témata:	grain size homologous temperature structure zone models structure zone models homologous temperature grain size
ISSN:	1359-6454, 1873-2453
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!