Application of a novel local and automatic PCA algorithm for diffraction pattern denoising in TEM-ASTAR analysis in microelectronics

•PCA denoising of TEM-ASTAR dataset improves post-treatment analysis.•Automatic thresholding of PCA using theoretical noise matrix's spectrum.•Locality of the algorithm aligned to localized nature of crystallographic grains.•Reduction of data acquisition times by a factor of five maintaining an...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Ultramicroscopy Ročník 267; s. 114059
Hlavní autoři:	Printemps, Tony, Dabertrand, Karen, Vives, Jérémy, Valery, Alexia
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Netherlands Elsevier B.V 01.12.2024
Témata:	ACOM-TEM ASTAR Denoising Diffraction pattern Marchenko-Pastur PCA ACOM-TEM Marchenko-Pastur ASTAR Diffraction pattern Denoising PCA
ISSN:	0304-3991, 1879-2723, 1879-2723
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!