Supervised and semi-supervised probabilistic learning with deep neural networks for concurrent process-quality monitoring

Concurrent process-quality monitoring helps discover quality-relevant process anomalies and quality-irrelevant process anomalies. It especially works well in chemical plants with faults that cause quality problems. Traditional monitoring strategies are limitedly applied in chemical plants because qu...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Neural networks Ročník 136; s. 54 - 62
Hlavní autoři: Wang, Kai, Yuan, Xiaofeng, Chen, Junghui, Wang, Yalin
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: United States Elsevier Ltd 01.04.2021
Témata:
ISSN:0893-6080, 1879-2782, 1879-2782
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.