Supervised and semi-supervised probabilistic learning with deep neural networks for concurrent process-quality monitoring

Concurrent process-quality monitoring helps discover quality-relevant process anomalies and quality-irrelevant process anomalies. It especially works well in chemical plants with faults that cause quality problems. Traditional monitoring strategies are limitedly applied in chemical plants because qu...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Neural networks Ročník 136; s. 54 - 62
Hlavní autori: Wang, Kai, Yuan, Xiaofeng, Chen, Junghui, Wang, Yalin
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: United States Elsevier Ltd 01.04.2021
Predmet:
ISSN:0893-6080, 1879-2782, 1879-2782
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.