Channel Coding for Nonvolatile Memory Technologies: Theoretical Advances and Practical Considerations

Every bit of information in a storage or memory device is bound by a multitude of performance specifications, and is subject to a variety of reliability impediments. At the other end, the physical processes tamed to remember our bits offer a constant source of risk to their reliability. These includ...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Proceedings of the IEEE Ročník 105; číslo 9; s. 1705 - 1724
Hlavní autori: Dolecek, Lara, Cassuto, Yuval
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: New York IEEE 01.09.2017
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Predmet:
ISSN:0018-9219, 1558-2256
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.