Channel Coding for Nonvolatile Memory Technologies: Theoretical Advances and Practical Considerations

Every bit of information in a storage or memory device is bound by a multitude of performance specifications, and is subject to a variety of reliability impediments. At the other end, the physical processes tamed to remember our bits offer a constant source of risk to their reliability. These includ...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Proceedings of the IEEE Ročník 105; číslo 9; s. 1705 - 1724
Hlavní autoři: Dolecek, Lara, Cassuto, Yuval
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: New York IEEE 01.09.2017
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:0018-9219, 1558-2256
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.