Software defect prediction using stacked denoising autoencoders and two-stage ensemble learning

Software defect prediction (SDP) plays an important role in allocating testing resources reasonably, reducing testing costs, and ensuring software quality. However, software metrics used for SDP are almost entirely traditional features compared with deep representations (DPs) from deep learning. Alt...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Information and software technology Ročník 96; s. 94 - 111
Hlavní autoři:	Tong, Haonan, Liu, Bin, Wang, Shihai
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Elsevier B.V 01.04.2018
Témata:	Deep learning Ensemble learning Software defect prediction Software metrics Stacked denoising autoencoders Deep learning Software metrics Ensemble learning Software defect prediction Stacked denoising autoencoders
ISSN:	0950-5849, 1873-6025
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!