Unraveling thickness-dependent structural properties of CrSBr nanoflakes using hyperspectral TERS imaging

CrSBr, a layered van der Waals material with intrinsic air stability and layer-dependent magnetic and electronic properties, has emerged as a promising 2D semiconductor. However, nanoscale insight into its thickness-dependent structural and electronic behavior remains limited. In this study, we empl...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Optics communications Ročník 595; s. 132349
Hlavní autoři:	Danylo, Iryna, Mrđenović, Dušan, Bienz, Siiri, Zenobi, Renato, Sofer, Zdeněk, Kumar, Naresh, Veselý, Martin
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Elsevier B.V 01.12.2025
Témata:	CrSBr nanoflakes Energy band structure Hyperspectral imaging Tip-enhanced Raman spectroscopy Two-dimensional semiconductor CrSBr nanoflakes Energy band structure Tip-enhanced Raman spectroscopy Hyperspectral imaging Two-dimensional semiconductor
ISSN:	0030-4018
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!