Nano-scale MOSFET device modelling with quantum mechanical effects

The continuing down-scaling trend of CMOS technology has brought serious deterioration in the accuracy of the SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) device models used in the design of chip functions. This is due to in part to hot electron and quantum effects that occur in moder...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	European journal of applied mathematics Ročník 17; číslo 4; s. 465 - 489
Hlavní autoři:	CUMBERBATCH, ELLIS, UNO, SHIGEYASU, ABEBE, HENOK
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Cambridge, UK Cambridge University Press 01.08.2006
Témata:	Applied mathematics
ISSN:	0956-7925, 1469-4425
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!