Nano-scale MOSFET device modelling with quantum mechanical effects

The continuing down-scaling trend of CMOS technology has brought serious deterioration in the accuracy of the SPICE (Simulation Program with Integrated Circuit Emphasis) device models used in the design of chip functions. This is due to in part to hot electron and quantum effects that occur in moder...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	European journal of applied mathematics Jg. 17; H. 4; S. 465 - 489
Hauptverfasser:	CUMBERBATCH, ELLIS, UNO, SHIGEYASU, ABEBE, HENOK
Format:	Journal Article
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Cambridge, UK Cambridge University Press 01.08.2006
Schlagworte:	Applied mathematics
ISSN:	0956-7925, 1469-4425
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Schreiben Sie den ersten Kommentar!