Accelerating iterative ptychography with an integrated neural network

Electron ptychography is a powerful and versatile tool for high‐resolution and dose‐efficient imaging. Iterative reconstruction algorithms are powerful but also computationally expensive due to their relative complexity and the many hyperparameters that must be optimised. Gradient descent‐based iter...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Journal of microscopy (Oxford) Ročník 300; číslo 2; s. 180 - 190
Hlavní autoři:	McCray, Arthur R. C., Ribet, Stephanie M., Varnavides, Georgios, Ophus, Colin
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	England Wiley Subscription Services, Inc 01.11.2025
Témata:	4DSTEM Algorithms gradient descent Image reconstruction machine learning Nanoparticles Neural networks ptychography 4DSTEM machine learning ptychography gradient descent
ISSN:	0022-2720, 1365-2818, 1365-2818
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!