Intrinsic feature revelation of phase-to-height mapping in phase measuring profilometry

•A more universal phase-to-height mapping is derived.•The derived mapping are dependent on both structure and phase of reference plane.•The traditional mapping is just a special case of it.•It provides a way to improve the accuracy of PMP. In traditional phase measuring profilometry (PMP) setup, the...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Optics and laser technology Ročník 108; s. 46 - 52
Hlavní autoři: Ma, Qiuna, Cao, Yiping, Chen, Cheng, Wan, Yingying, Fu, Guangkai, Wang, Yapin
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Kidlington Elsevier Ltd 01.12.2018
Elsevier BV
Témata:
ISSN:0030-3992, 1879-2545
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.