A surface defect identification method based on improved threshold segmentation algorithm

For enterprises, defect detection is very important because it is related to the quality of products produced by enterprises. With the development of machine vision, accurate analysis of image data benefits defect detection. In an enterprise that produces electronic cigarettes, professional and tech...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Journal of physics. Conference series Ročník 1651; číslo 1; s. 12072 - 12076
Hlavní autoři:	Feng, Xinglong, Gao, Xianwen, Luo, Ling
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Bristol IOP Publishing 01.11.2020
Témata:	Algorithms Identification methods Image segmentation Machine vision Physics Surface defects Workpieces
ISSN:	1742-6588, 1742-6596
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!