Microstructure analysis of NiO nanocrystals and enhanced photocatalytic activities of NiO-CdS nanocomposites

A comprehensive study on the microstructure of chemically prepared NiO nanocrystals has been carried out using various forms of Williamson–Hall (WH) formulation of X-ray diffraction (XRD) line profile analysis viz. uniform deformation model (UDM), uniform stress deformation model (USDM), uniform def...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	Journal of materials science. Materials in electronics Ročník 33; číslo 10; s. 7824 - 7837
Hlavní autoři:	Sharma, Saurabh K., Kalita, Manos P. C.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York Springer US 01.04.2022 Springer Nature B.V
Témata:	Characterization and Evaluation of Materials Chemistry and Materials Science Crystal defects Crystallites Deformation Dislocation density Dyes Flux density Heterojunctions Interstitial defects Lattice strain Lattice vacancies Light irradiation Materials Science Methylene blue Microstructure Nanocomposites Nanocrystals Nickel oxides Optical and Electronic Materials Optical properties Photocatalysis
ISSN:	0957-4522, 1573-482X
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!