Fourfold coordinated Te atoms in amorphous GeCu2Te3 phase change material

Amorphous GeCu2Te3 was investigated by X-ray diffraction and extended X-ray absorption fine structure measurements at the Ge, Cu and Te K-edges. Structural models were obtained by fitting the four experimental datasets simultaneously by reverse Monte Carlo simulation. It was found that Ge–Ge and Cu–...

Celý popis

Podrobná bibliografie

Vydáno v:	Scripta materialia Ročník 68; číslo 2; s. 122 - 125
Hlavní autoři:	Jóvári, P., Sutou, Y., Kaban, I., Saito, Y., Koike, J.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	Elsevier Ltd 01.01.2013
Témata:	Chalcogenide glasses EXAFS Modeling X-ray diffraction X-ray diffraction Modeling Chalcogenide glasses EXAFS
ISSN:	1359-6462, 1872-8456
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!