Parameter extraction method for universal amorphous silicon thin-film transistors simulation program with integrated circuit emphasis model

The universal simulation program with integrated circuit emphasis (SPICE) model for hydrogenated amorphous silicon thin-film transistor is largely used in circuit simulation. This model has more than 10 parameters to be extracted through experimental data, and the optimal method to determine them is...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IET circuits, devices & systems Ročník 6; číslo 2; s. 118 - 121
Hlavní autoři: Jin, J.W., Oudwan, M., Daineka, D., Moustapha, O., Bonnassieux, Y.
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Stevenage John Wiley & Sons, Inc 01.03.2012
Témata:
ISSN:1751-858X, 1751-8598
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.