Bias analysis of AI models for undergraduate student admissions

Bias detection and mitigation is an active area of research in machine learning. This work extends previous research done by the authors Van Busum and Fang (Proceedings of the 38th ACM/SIGAPP Symposium on Applied Computing, 2023) to provide a rigorous and more complete analysis of the bias found in...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Neural computing & applications Jg. 37; H. 12; S. 7785 - 7795
Hauptverfasser: Van Busum, Kelly, Fang, Shiaofen
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: London Springer London 01.04.2025
Springer Nature B.V
Schlagworte:
ISSN:0941-0643, 1433-3058
Online-Zugang:Volltext
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