On the implementation of an analog ATPG: the nonlinear case

In order to reduce the complexity of the fault diagnosis equations and still retain computational simplicity, a self-testing algorithm has been proposed and implemented on a VMS VAX 11/780 for linear circuits. A prototype implementation of such an algorithm for nonlinear circuits and systems is pres...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	IEEE transactions on instrumentation and measurement Ročník 37; číslo 2; s. 252 - 258
Hlavní autoři:	Wey, C.-L., Saeks, R.
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York, NY IEEE 01.06.1988 Institute of Electrical and Electronics Engineers
Témata:	Applied sciences Automatic test pattern generation Automatic testing Built-in self-test Circuit simulation Circuit testing Electronics Exact sciences and technology Fault diagnosis Nonlinear circuits Nonlinear equations SPICE Testing, measurement, noise and reliability Voice mail Non linear circuit Implantation Circuit parameter Simulation Algorithm Fault diagnostic
ISSN:	0018-9456, 1557-9662
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!