Monitoring of machining process anomalies in diamond turning of Ti6Al4V alloy using transfer learning-based algorithms

•Challenges associated with the in-process monitoring diamond turning are discussed.•If process drifts are not detected timely can cause an impact on substrate and tool.•Time frequency-based spectrogram analysis is carried out to detect the anomalies.•Use of transfer learning to overcome challenges...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Computers & industrial engineering Ročník 182; s. 109359
Hlavní autori: Manjunath, K, Tewary, Suman, Khatri, Neha, Cheng, Kai
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Elsevier Ltd 01.08.2023
Predmet:
ISSN:0360-8352, 1879-0550
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.