Monitoring of machining process anomalies in diamond turning of Ti6Al4V alloy using transfer learning-based algorithms

•Challenges associated with the in-process monitoring diamond turning are discussed.•If process drifts are not detected timely can cause an impact on substrate and tool.•Time frequency-based spectrogram analysis is carried out to detect the anomalies.•Use of transfer learning to overcome challenges...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Computers & industrial engineering Ročník 182; s. 109359
Hlavní autoři: Manjunath, K, Tewary, Suman, Khatri, Neha, Cheng, Kai
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Elsevier Ltd 01.08.2023
Témata:
ISSN:0360-8352, 1879-0550
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.