Correlation between sputtering method, microstructure and properties of TiOx thin films deposited by reactive direct-current and high-power impulse magnetron sputtering

•TiOx films were deposited by magnetron sputtering at various oxygen flow fractions.•Microstructure, morphology and grain size of TiOx are affected by deposition method.•Correlation between phase constitution and particle energy distribution was studied. In this study, Titanium oxide (TiOx) thin fil...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Thin solid films Ročník 808; s. 140573
Hlavní autori: Lablali, Younes, Oubaki, Rachid, Ghailane, Anas, Alami, Jones, Makha, Mohammed
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Elsevier B.V 15.11.2024
Predmet:
ISSN:0040-6090
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.