Correlation between sputtering method, microstructure and properties of TiOx thin films deposited by reactive direct-current and high-power impulse magnetron sputtering

•TiOx films were deposited by magnetron sputtering at various oxygen flow fractions.•Microstructure, morphology and grain size of TiOx are affected by deposition method.•Correlation between phase constitution and particle energy distribution was studied. In this study, Titanium oxide (TiOx) thin fil...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Thin solid films Ročník 808; s. 140573
Hlavní autoři: Lablali, Younes, Oubaki, Rachid, Ghailane, Anas, Alami, Jones, Makha, Mohammed
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Elsevier B.V 15.11.2024
Témata:
ISSN:0040-6090
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.