Ezuz, D., Solomon, J., Kim, V. G., & Ben-Chen, M. (2017). GWCNN: A Metric Alignment Layer for Deep Shape Analysis. Computer graphics forum, 36(5), 49-57. https://doi.org/10.1111/cgf.13244
Citácia podle Chicago (17th ed.)Ezuz, Danielle, Justin Solomon, Vladimir G. Kim, a Mirela Ben-Chen. "GWCNN: A Metric Alignment Layer for Deep Shape Analysis." Computer Graphics Forum 36, no. 5 (2017): 49-57. https://doi.org/10.1111/cgf.13244.
Citácia podľa MLA (8th ed.)Ezuz, Danielle, et al. "GWCNN: A Metric Alignment Layer for Deep Shape Analysis." Computer Graphics Forum, vol. 36, no. 5, 2017, pp. 49-57, https://doi.org/10.1111/cgf.13244.
Upozornenie: Tieto citáce sú generované automaticky. Nemusia byť úplne správne podľa citačných pravidiel..