Generative Adversarial Active Learning for Unsupervised Outlier Detection

Outlier detection is an important topic in machine learning and has been used in a wide range of applications. In this paper, we approach outlier detection as a binary-classification issue by sampling potential outliers from a uniform reference distribution. However, due to the sparsity of data in h...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE transactions on knowledge and data engineering Ročník 32; číslo 8; s. 1517 - 1528
Hlavní autoři: Liu, Yezheng, Li, Zhe, Zhou, Chong, Jiang, Yuanchun, Sun, Jianshan, Wang, Meng, He, Xiangnan
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: New York IEEE 01.08.2020
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:1041-4347, 1558-2191
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.