Degradation Prediction of Semiconductor Lasers Using Conditional Variational Autoencoder

Semiconductor lasers have been rapidly evolving to meet the demands of next-generation optical networks. This imposes much more stringent requirements on the laser reliability, which are dominated by degradation mechanisms (e.g., sudden degradation) limiting the semiconductor laser lifetime. Physics...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	Journal of lightwave technology Ročník 40; číslo 18; s. 6213 - 6221
Hlavní autoři:	Abdelli, Khouloud, Grieser, Helmut, Neumeyr, Christian, Hohenleitner, Robert, Pachnicke, Stephan
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York IEEE 15.09.2022 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:	Anomalies Data models Decoding Degradation Degradation prediction Laser modes Lasers Logic gates machine learning Mathematical models Network reliability Optical communication Reliability semiconductor laser reliability Semiconductor lasers Tunable lasers variational autoencoder Vertical cavity surface emission lasers Vertical cavity surface emitting lasers
ISSN:	0733-8724, 1558-2213
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!