Fault Classification in High-Dimensional Complex Processes Using Semi-Supervised Deep Convolutional Generative Models

In complex industrial processes, process fault detection and classification constitute an important task for reducing production costs and improving product quality. Most existing methods for fault classification assume that sufficient labeled data are available for training. However, label acquisit...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:IEEE transactions on industrial informatics Ročník 16; číslo 4; s. 2868 - 2877
Hlavní autori: Ko, Taeyoung, Kim, Heeyoung
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Piscataway IEEE 01.04.2020
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Predmet:
ISSN:1551-3203, 1941-0050
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.