Fault Classification in High-Dimensional Complex Processes Using Semi-Supervised Deep Convolutional Generative Models

In complex industrial processes, process fault detection and classification constitute an important task for reducing production costs and improving product quality. Most existing methods for fault classification assume that sufficient labeled data are available for training. However, label acquisit...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE transactions on industrial informatics Ročník 16; číslo 4; s. 2868 - 2877
Hlavní autoři: Ko, Taeyoung, Kim, Heeyoung
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Piscataway IEEE 01.04.2020
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:1551-3203, 1941-0050
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.