Color three-dimensional imaging based on patterned illumination using a negative pinhole array

Reflectance confocal microscopy is widely used for non-destructive optical three-dimensional (3D) imaging. In confocal microscopy, a stack of sequential two-dimensional (2D) images with respect to the axial position is typically needed to reconstruct a 3D image. As a result, in conventional confocal...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Optics express Ročník 29; číslo 5; s. 6509
Hlavní autori: Kim, Chang-Soo, Kim, Junyoung, Yoo, Hongki
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: United States 01.03.2021
ISSN:1094-4087, 1094-4087
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.