Color three-dimensional imaging based on patterned illumination using a negative pinhole array

Reflectance confocal microscopy is widely used for non-destructive optical three-dimensional (3D) imaging. In confocal microscopy, a stack of sequential two-dimensional (2D) images with respect to the axial position is typically needed to reconstruct a 3D image. As a result, in conventional confocal...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Optics express Jg. 29; H. 5; S. 6509
Hauptverfasser:	Kim, Chang-Soo, Kim, Junyoung, Yoo, Hongki
Format:	Journal Article
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	United States 01.03.2021
ISSN:	1094-4087, 1094-4087
Online-Zugang:	Volltext
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