Color three-dimensional imaging based on patterned illumination using a negative pinhole array

Reflectance confocal microscopy is widely used for non-destructive optical three-dimensional (3D) imaging. In confocal microscopy, a stack of sequential two-dimensional (2D) images with respect to the axial position is typically needed to reconstruct a 3D image. As a result, in conventional confocal...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Optics express Ročník 29; číslo 5; s. 6509
Hlavní autoři: Kim, Chang-Soo, Kim, Junyoung, Yoo, Hongki
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: United States 01.03.2021
ISSN:1094-4087, 1094-4087
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.