Enhancing defect detection in additive manufacturing using a conditional autoencoder with skip connections and in situ infrared sensing

Developing reliable and efficient defect detection strategies for additive manufacturing (AM) is critical to advancing its adoption in industrial environments. To this end, studies have focused on constructing defect detection frameworks combining unsupervised anomaly detection algorithms and sensor...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Journal of manufacturing processes Ročník 156; s. 268 - 283
Hlavní autoři: Segura Ibarra, Diego, Hossain, Rifat-E-Nur, Lamonte, Riley C., Moore, Arden L., Chen, Jinyuan
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: Elsevier Ltd 26.12.2025
Témata:
ISSN:1526-6125
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.