Enhancing defect detection in additive manufacturing using a conditional autoencoder with skip connections and in situ infrared sensing
Developing reliable and efficient defect detection strategies for additive manufacturing (AM) is critical to advancing its adoption in industrial environments. To this end, studies have focused on constructing defect detection frameworks combining unsupervised anomaly detection algorithms and sensor...
Uloženo v:
| Vydáno v: | Journal of manufacturing processes Ročník 156; s. 268 - 283 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
Elsevier Ltd
26.12.2025
|
| Témata: | |
| ISSN: | 1526-6125 |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!