Enhancing defect detection in additive manufacturing using a conditional autoencoder with skip connections and in situ infrared sensing

Developing reliable and efficient defect detection strategies for additive manufacturing (AM) is critical to advancing its adoption in industrial environments. To this end, studies have focused on constructing defect detection frameworks combining unsupervised anomaly detection algorithms and sensor...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:Journal of manufacturing processes Ročník 156; s. 268 - 283
Hlavní autori: Segura Ibarra, Diego, Hossain, Rifat-E-Nur, Lamonte, Riley C., Moore, Arden L., Chen, Jinyuan
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: Elsevier Ltd 26.12.2025
Predmet:
ISSN:1526-6125
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.