Data Driven In Situ TEM: A Path Towards Accurate Characterization of Radiation Damage in Structural Materials

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:Microscopy and microanalysis Ročník 29; číslo Supplement_1; s. 1555
Hlavní autoři: Burns, Kory, Kohnert, Caitlin, Li, Nan, Scott, Mary C, Hattar, Khalid
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: England 22.07.2023
ISSN:1435-8115
On-line přístup:Zjistit podrobnosti o přístupu
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Popis
ISSN:1435-8115
DOI:10.1093/micmic/ozad067.800