Full-Scale Regression Modeling of Spatial Details for Single-/Multiplatform Hypersharpening
Whenever the sharpening band is not unique, the hypersharpening paradigm extends traditional pansharpening to any <inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">m </tex-math></inline-formula>-to-<inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">n </t...
Uložené v:
| Vydané v: | IEEE transactions on geoscience and remote sensing Ročník 63; s. 1 - 16 |
|---|---|
| Hlavní autori: | , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | English |
| Vydavateľské údaje: |
New York
IEEE
2025
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE) |
| Predmet: | |
| ISSN: | 0196-2892, 1558-0644 |
| On-line prístup: | Získať plný text |
| Tagy: |
Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
|
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!