Full-Scale Regression Modeling of Spatial Details for Single-/Multiplatform Hypersharpening

Whenever the sharpening band is not unique, the hypersharpening paradigm extends traditional pansharpening to any <inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">m </tex-math></inline-formula>-to-<inline-formula> <tex-math notation="LaTeX">n </t...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE transactions on geoscience and remote sensing Ročník 63; s. 1 - 16
Hlavní autoři: Arienzo, Alberto, Garzelli, Andrea, Alparone, Luciano, Vivone, Gemine
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: New York IEEE 2025
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:0196-2892, 1558-0644
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.