Electronic Reliability and Error Performance Analysis of RIS-Aided Communication Networks

This article explores the critical aspect of electronic hardware reliability analysis in reconfigurable intelligent surface (RIS)-aided networks within the context of sixth-generation (6G) communications. Recognizing the potential vulnerabilities of metasurfaces to environmental factors, we highligh...

Celý popis

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Vydáno v:	IEEE transactions on reliability Ročník 74; číslo 3; s. 3708 - 3717
Hlavní autoři:	Mondal, Atiquzzaman, Singh, Keshav, Biswas, Sudip
Médium:	Journal Article
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New York IEEE 01.09.2025 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:	6G mobile communication Communication networks Degradation Electromagnetic properties Gamma process Hardware hardware impairment Impairment Life expectancy Maintenance Optimization Reconfigurable intelligent surfaces Reliability Reliability analysis stochastic degradation Stochastic processes Surface treatment System failures Systematics Wireless communication
ISSN:	0018-9529, 1558-1721
On-line přístup:	Získat plný text
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!