Automatically Designing Network-Based Deep Transfer Learning Architectures Based on Genetic Algorithm for In-Situ Tool Condition Monitoring

In-situ tool condition monitoring ( in-situ TCM) is vital for metal removal manufacturing which realizes on-machine diagnosis in a real-time manner. The limitation of in-situ TCM based on traditional deep learning lies in several aspects: the requirement of sufficient labeled data of health conditio...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Vydáno v:IEEE transactions on industrial electronics (1982) Ročník 69; číslo 9; s. 9483 - 9493
Hlavní autoři: Liu, Yuekai, Yu, Yaoxiang, Guo, Liang, Gao, Hongli, Tan, Yongwen
Médium: Journal Article
Jazyk:angličtina
Vydáno: New York IEEE 01.09.2022
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE)
Témata:
ISSN:0278-0046, 1557-9948
On-line přístup:Získat plný text
Tagy: Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!
Nejprve se musíte přihlásit.