Automatically Designing Network-Based Deep Transfer Learning Architectures Based on Genetic Algorithm for In-Situ Tool Condition Monitoring
In-situ tool condition monitoring ( in-situ TCM) is vital for metal removal manufacturing which realizes on-machine diagnosis in a real-time manner. The limitation of in-situ TCM based on traditional deep learning lies in several aspects: the requirement of sufficient labeled data of health conditio...
Uloženo v:
| Vydáno v: | IEEE transactions on industrial electronics (1982) Ročník 69; číslo 9; s. 9483 - 9493 |
|---|---|
| Hlavní autoři: | , , , , |
| Médium: | Journal Article |
| Jazyk: | angličtina |
| Vydáno: |
New York
IEEE
01.09.2022
The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. (IEEE) |
| Témata: | |
| ISSN: | 0278-0046, 1557-9948 |
| On-line přístup: | Získat plný text |
| Tagy: |
Přidat tag
Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!
|
Buďte první, kdo okomentuje tento záznam!