A Metal Film Thickness Measurement System With a Large Range Based on High-Performance ME Sensors

The majority of traditional eddy current-based metal film thickness measurement systems measure the thickness of the metal film by detecting changes in the impedance or voltage of the detection coil, leading to limited measurement range and susceptibility to measurement errors caused by variations i...

Celý popis

Uložené v:
Podrobná bibliografia
Vydané v:IEEE/ASME transactions on mechatronics s. 1 - 10
Hlavní autori: Qiu, Yang, Shi, Lingshan, Yu, Guoliang, Zhu, Mingmin, Li, Yan, Wang, Jiawei, Zhang, Shulin, Ren, Kun, Zhou, Haomiao
Médium: Journal Article
Jazyk:English
Vydavateľské údaje: IEEE 2025
Predmet:
ISSN:1083-4435, 1941-014X
On-line prístup:Získať plný text
Tagy: Pridať tag
Žiadne tagy, Buďte prvý, kto otaguje tento záznam!
Buďte prvý, kto okomentuje tento záznam!
Najprv sa musíte prihlásiť.