A Metal Film Thickness Measurement System With a Large Range Based on High-Performance ME Sensors

The majority of traditional eddy current-based metal film thickness measurement systems measure the thickness of the metal film by detecting changes in the impedance or voltage of the detection coil, leading to limited measurement range and susceptibility to measurement errors caused by variations i...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE/ASME transactions on mechatronics S. 1 - 10
Hauptverfasser: Qiu, Yang, Shi, Lingshan, Yu, Guoliang, Zhu, Mingmin, Li, Yan, Wang, Jiawei, Zhang, Shulin, Ren, Kun, Zhou, Haomiao
Format: Journal Article
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: IEEE 2025
Schlagworte:
ISSN:1083-4435, 1941-014X
Online-Zugang:Volltext
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