Investigation of the optical properties of Pb1-xCdxTe films using spectroscopic ellipsometry

•Single phase rock-salt Pb1-xCdxTe (0 ≤ x ≤ 0.15) films were produced.•The lattice constant of Pb1-xCdxTe decreases as a function of Cd concentration.•The band gap of Pb1-xCdxTe blue shifts as the Cd concentration increases.•The index of refraction decreased by ∼10 % as Cd increases. Using spectrosc...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Thin solid films Jg. 802; S. 140450
Hauptverfasser:	Kovach, Samuel, Maksimov, Oleg, Bhattacharya, Pijush, Peiris, Frank
Format:	Journal Article
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	Elsevier B.V 15.08.2024
Schlagworte:	Critical points Lead cadmium telluride Spectroscopic ellipsometry Vertical Bridgman Lead cadmium telluride Spectroscopic ellipsometry Critical points Vertical Bridgman
ISSN:	0040-6090
Online-Zugang:	Volltext
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